简介：裂纹是结构组件中最具危险性的缺陷，在表面裂纹被探出后，对断裂分析和构件修复来说裂纹深度测试是非常重要的实际问题。电位法检测裂纹深度的原理是基于电位探针理论，当被测量金属表面两点间有裂纹存在时，其两点间电阻比无裂纹表面的电阻高。其特点是仅需从试件的一侧进行测量而不受背面条件的限制，适用于一切导电试件，且由于趋肤效应的存在，使交流电位法的测量精度较直流电位法高。

简介：为了正确测试铍材表面残余应力分布，建立了一种测试方法，并在X3000型应力分析仪上，采用悬臂梁加载实验，验证了该方法的可行性。

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简介：给肌肤昂贵的护肤用品，享受最可口的食物，有时候对我们的肌体未必是最好的给予，如果其中所含的物质身体不能吸收，更糟糕的是对所含物品成分产生负面的反应，就会影响身体或是肌肤的健康。如今，各种护肤品与保健产品推陈出新，在众多选择下，要怎样选择才能给身心最佳的照顾？

简介：时域反射测量技术（TimeDomainReflectmetry，TDR）是在高速脉冲技术迅速发展的基础上出现的一种先进的测量技术。通过对传输系统发出高速脉冲信号，接收器接收其反射信号，据此可分析判断传输系统的阻抗特性，判断出多个不连续点的位置、性质和大小。其原理如图1所示。

简介：P225.294021104脉冲激光测距中电子精密测量=Electronicaccuratemeasurementinpulselaserrange-finding[刊,中]/魏余灵,于善智,刘家鸣,刘桐镇(山东省激光研究所)//电子测量与仪器学报.-1993,7(1).-58～63阐述了恒定时触发器及计时内插扩展技术在脉冲激光测距中精度的提高及误差分析。图7参3(严寒)TB92194021105外腔半导体激光器大尺寸无导轨测长研究=Aresearchonlarge-scalemeasurementusingexternal-cavitysemiconductorlaser[刊,中]/武勇军,李达成,曹芒(清华大学精仪系),张汉一(清华大学电子工程系)//中国激光.-1993,A20(12).-906～909利用平面镜外腔半导体激光器和连续调频波技

简介：TN2522002042748有效折射率法的研究=Studyofeffectiveindexmethod[刊,中]/孙飞,刘润民,李国正(西安交通大学电子工程系.陕西,西安(710049))∥半导体光电.—2001,22(1).—34-37分析了有效折射率法及其计算偏差的产生原因,

简介：TN2522002010399测量NLO聚合物薄膜光波导传输损耗的方法=Meth-odsformeasuringtransmissionlossofNLOpoly-merthinfilms【刊,中]/吕增海,任诠,马常宝(山东大学光学系晶体材料国家重点实验室.山东,济南(250100))∥光电子·激光.—2001,12(1).—101-104

简介：通过溶胶-凝胶法、离子束磁控溅射法和化学腐蚀法分别制备了PZT薄膜、PbZr_（0.52）Ti_（0.48）O_3/Ni（PZT/Ni）复合薄膜材料的鼓包样品。采用X射线衍射仪（X-raydiffraction,XRD）表征了PZT/Ni复合薄膜材料的物相结构;利用自主研制的多功能新型鼓包测试平台,在力场、电场、磁场作用下分别测试分析了PZT/Ni复合薄膜材料体系的力电磁耦合性能。结果表明：随着电场强度的增加,PZT薄膜的弹性模量E先增大后减小;PZT/Ni复合薄膜在电场作用下实现了电磁调控,矫顽磁场强度Hc提高了33.4%;随着测试平台油压的增大,PZT薄膜的剩余极化强度和矫顽场分别增加了17.1%和32.1%,PZT/Ni复合薄膜的矫顽磁场强度提高了46.1%。

简介：TN2495063683超短脉冲激光的脉宽测量=Measurementoftheultrashortlaserpulsewidth[刊,中]/文国庆,张树葵,周丕璋,陈骥,邬玉婷(西南核物理与化学研究

简介：TN2596042537Brillouin光纤应变传感中的参数理论计算=TheoreticalcalculationoftheparametersinBrillouinfibrestrainsensing[刊,中]/黄民双,陈伟民,黄尚廉(重庆大学光电技术及系统开放实验室.四川,重庆(630044)),王新强(重庆大学物理系.四川,重庆)∥光通信技术.—1996,20(1).—39—44,53

简介：O484.599042623用喇曼散射光谱估算纳米Ge晶粒平均尺寸=Estimationofcrystal—sizeofnano—GebyRamanscatteringspectra[刊,中]/王印月,郑树凯,杨映虎,郭永平（兰州大学物理系.甘肃,兰州（730000））,奇莉,甘润今（北京机械工业学院基础部.北京（100085））//光学学报.—1998,18（9）.—1265—1268用射频共溅射技术和真空退火方法制备了埋入SiO2基底中的纳米Ge复合膜(nc—Ge/SiO2。测量了不同温度退火后该复合膜的喇曼散射光谱,其结果与晶体Ge的喇曼谱相比,纳米Ge的喇曼峰位红移峰形变宽;用喇曼谱的参数计算了纳米Ge晶粒的平均尺寸。所得

简介：随着表面科学和材料科学与工程的发展，近几十年来表面工程摩擦学获得了迅速发展，表面工程摩擦学领域所获得的大量研究成果不仅促进和丰富了摩擦学的基础研究，而且为开发工业和高新技术发展所必需的具有高强度、高耐磨性和高抗腐蚀性的摩擦学材料提供了重要的指南。研究PBX表面摩擦性能测试方法，可以为新型PBX的研制开发和库存科学技术研究提供技术支撑。PBX表面摩擦性能的测试与研究尚未系统开展，为此，初步研究了PBX动、静摩擦系数的测试方法。

简介：TH70397063908光学元件的疵病检验与研究现状=Presentsituationofimperfectionstestingandresearchingontheopticalcomponents[刊,中]/戴名奎,徐德衍(中科院上海光机研究所.上海(201800))∥光学仪器.—1996,18(3).—33—36

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简介：O484.52003053772厚度具有线性变化的吸收平板或膜层的非相干透射率和反射率=Incoherenttransmissivityandreflectivityofanabsorbingplaneplateorlayerwithlinearvariationsinthickness[刊,中]/钟迪生(辽宁大学物理系.辽宁,沈阳(110036))//应用光学.-2002,23(1).-40-43计算了垂直入射下厚度具有线性变化的吸收平板样品的非相干透射率和反射率(正面和反面),给出了直接确定无基底样品以及透明基底上薄膜能量(强度)系数的精确表达式。图3参3(郑锦玉)