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光学元件测试及设备

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摘要 TH70397063908光学元件的疵病检验与研究现状=Presentsituationofimperfectionstestingandresearchingontheopticalcomponents[刊,中]/戴名奎,徐德衍(中科院上海光机研究所.上海(201800))∥光学仪器.—1996,18(3).—33—36

DOI pj0exr5w4y/715399

作者

机构地区不详

出处《中国光学》 1997年6期

关键词研究现状光学元件光学仪器疵病当今世界中科院

分类 [理学][物理]

出版日期 1997年06月16日（中国期刊网平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

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中国光学

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