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《半导体信息》
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2009年6期
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ARM开发新型45纳米SOI测试芯片
ARM开发新型45纳米SOI测试芯片
(整期优先)网络出版时间:2009-06-16
作者:
孙再吉
电子电信
>物理电子学
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资料简介
ARM公司近日在IEEESOI会议上发布了一款绝缘体上硅(SOI)45纳米测试芯片的测试结果。测试结果表明,相较于采用传统的体效应工艺(bulk
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ARM公司近日在IEEESOI会议上发布了一款绝缘体上硅(SOI)45纳米测试芯片的测试结果。测试结果表明,相较于采用传统的体效应工艺(bulk
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