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新一代65纳米测试芯片

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摘要 <正>英特尔日前宣布,公司研制出采用65nm技术的试验性芯片,并预计在2005年将成为首家生产这种芯片的厂商。目前广泛应用的芯片为130nm;而90nm芯片则预计明年初量产。英特尔称,其静态随机存取内存测试芯片上的晶体管极小,在仅一平方毫米的面积上,

DOI pj09oeqwjy/1563775

作者郑冬冬

机构地区不详

出处《半导体信息》 2004年2期

关键词随机存取内存平方毫米测试产品

分类 [电子电信][物理电子学]

出版日期 2004年02月12日（中国期刊网平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）