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  • 简介:摘要:数字集成电路测试系统的发展建立于集成电路系统的发展,其发展要社会需求,充分发挥测试系统的功能。其中,驱动系统在测试中发挥着重要的作用,其模块化同结构化的设计优点,[3]对测试系统功能的提升与应用范围的扩大起着推动作用。总而言之,集成电路测试作为提高电路产品质量与实用性的重要技术,广受集成电路产业的重视,作为其核心的驱动程序更是关注焦点,因此,对驱动系统进行可行性研究,提高其使用价值,能够促进集成电路测试系统的高质量发展。

  • 标签: 数字集成电路测试 驱动程序 设计与实现
  • 简介:摘要:数字集成电路测试系统的发展建立于集成电路系统的发展,其发展要社会需求,充分发挥测试系统的功能。其中,驱动系统在测试中发挥着重要的作用,其模块化同结构化的设计优点,[3]对测试系统功能的提升与应用范围的扩大起着推动作用。总而言之,集成电路测试作为提高电路产品质量与实用性的重要技术,广受集成电路产业的重视,作为其核心的驱动程序更是关注焦点,因此,对驱动系统进行可行性研究,提高其使用价值,能够促进集成电路测试系统的高质量发展。

  • 标签: 数字集成电路测试 驱动程序 设计与实现
  • 作者: 徐子聪 秦晓瑶 丁宏伟 李蒙 毛巧玲
  • 学科: 建筑科学 > 建筑技术科学
  • 创建时间:2024-06-26
  • 出处:《中国科技人才》 2024年第7期
  • 机构:摘  要:本文旨在探讨微电子科学与工程领域中集成电路设计与系统优化的关键技术和方法。通过分析当前集成电路设计面临的挑战,提出了一系列系统优化的策略,以期提高集成电路的性能、降低功耗并缩小芯片面积。这些策略不仅涉及电路设计层面的创新,还包括对制造工艺和系统架构的深入优化。本文的研究对于推动微电子行业的发展具有一定的理论和实践意义。
  • 简介:摘要:由于电路设计技术的飞速进步,集成电路的测试已成为确保电路可靠性的重要手段。测试集成电路不仅可以确保其可靠性,还能够有效降低制造成本。本文提出了一种基于PMU的小型集成电路测试系统的设计方法,该系统具有高精度、高稳定性、快速响应性的特点,同时,其硬件设计成本相对于其他类似产品明显降低,可以满足集成电路测试中对直流参数的需求。

  • 标签: PMU 小型集成电路 测试系统
  • 简介:摘要:在我国社会高速发展的背景下,人们的生活水平提高,对电力的需求量不断增加,随着社会的不断发展,人们对电力要求不断提高,集成电路应运而生,并在人们的生产和生活中扮演着重要的角色,其集成度也从最初的小规模向中、大规模演进。在集成电路生产中,硅是主要的材料,过去很长一段时间里,以硅为基础生产的集成电路集成电路总数的90%以上。以硅为生产材料不仅可以提高集成电路的成品率,还可以缩小光刻线宽,而且单晶硅在质量和尺寸上的工艺提升,还促进了集成电路在监控技术、测量技术、制造工艺、设计技术等方面的应用发展。

  • 标签: 集成电路 技术研究 失效分析
  • 简介:摘要:本文主要探讨了并行控制技术在电子集成电路中的应用。首先,文章介绍了并行控制技术和电子集成电路的基本概念,然后深入分析了并行控制技术在电子集成电路设计、生产和测试中的具体应用。文章进一步探讨了并行控制技术对电子集成电路性能的影响,包括提高处理速度、提高能效和提高可靠性。最后,文章展望了并行控制技术在电子集成电路上的未来发展,包括面向更大规模的并行处理、面向异构系统的并行控制以及面向新的应用需求。研究表明,并行控制技术在电子集成电路上的应用具有极大的价值和潜力。

  • 标签: 并行控制技术 电子集成电路 并行处理
  • 简介:摘要:半导体集成电路工艺误差及其相关因素直接影响着其自身的可靠性。因此,为了有效的提高半导体集成电路工艺的可靠性,降低产品成本,相关技术人员应该针对半导体集成电路进行可靠性测试,并合理的选择数据处理方法。基于此,本文对半导体集成电路可靠性测试和数据处理进行了深入的研究,以供相关的工作人员参考借鉴。

  • 标签: 半导体集成电路 可靠性测试 数据处理
  • 简介:摘要本文以集成电路封装系统为研究对象,对其中的引线键合技术的工艺内容进行研究分析。在简要介绍引线键合技术基础的前提下,分析多种类型的键合技术,并重点在键合技术基础条件上,就温度、时间、键合工具、引线材料、键合机理这四方面内容进行细化说明。

  • 标签: 集成电路 封装处理 引线缝合
  • 简介:【摘 要】联合专利分类体系(CPC)是一种能快速、准确的检索专利文献的有效工具,本文针对半导体集成电路器件领域的CPC分类和实践运用情况进行了分析。

  • 标签: CPC分类 半导体 集成电路
  • 简介:摘要:随着电子产业的飞速发展,元件本身的可靠性已成为电子产业所面临的重大挑战。因此,研究集成电路的失效分析非常必要。本文通过SAM、Lightemission、Mini-tester等技术对数字集成电路进行了失效分析,并对失效机理、失效模式等进行了详细研究,制定了详细的失效分析步骤,来对数字单片机的不同模块进行测试。希望通过本文的研究,能够促进集成电路失效分析技术的快速发展。

  • 标签: 数字集成电路 失效分析 技术
  • 简介:摘要:在国家“放管服”改革的大背景下,集成电路行业建设项目环境影响评价(以下简称环评)已简化为仅需编制环评报告表,且下放到了省级及以下地方生态环境部门审批,和以往的审批模式相比,基层生态环境部门的审批工作大幅增加,对应的压力增长过快。除了工作压力外,因为部分工作人员对审批政策和流程性文件的了解并不深入,对集成电路的相关技术了解不够充分而导致审批工作的难度剧增。因此,本文进一步完善集成电路行业的环评管理,对分类管理和分级审批、与规划环评衔接、建设项目重大变动、执行标准规范适用性等方面的现状和问题进行了分析,并在此基础上提出了优化调整的对策建议。

  • 标签: 集成电路行业 环境影响评价 环境管理
  • 简介:摘要:在元器件国产化推进过程中,由于集成电路设计和工艺不同,在替代中会出现诸多信号匹配问题。此类问题大部分发生在元器件之间相互配合的握手是否充分上。在元器件国产化替代过程中,通过细致的信号分析,可以起到对电路板级进行增进了解的作用,并能避免大多数故障问题的发生,在许多时候还能够提高整机系统的恶劣环境耐受能力。

  • 标签: 信号分析 集成电路 国产化替代 应用
  • 简介:摘要:中共中央、国务院发布的《国家标准化发展纲要》指出,要以标准筑牢产业发展基础,加强核心基础零部件(元器件)、先进基础工艺、关键基础材料与产业技术基础标准建设;同时要以标准增强产业链、供应链稳定性和产业综合竞争力,加快关键环节、关键领域、关键产品的技术攻关和标准研制应用,提升产业链供应链现代化水平。5G时代,社会主要应用场景呈现低时延高可靠、低功耗大连接、连续广域覆盖和热点高容量等特征,同时,智慧能源、网联汽车等新兴产业借力5G朝向数字化、智能化、网络化发展,集成电路产业迎来重要机遇期。

  • 标签: 5G网络 集成电路 标准化
  • 简介:【摘要】随着半导体技术的发展,IC封装向小型化发展,对器件可靠性产生很大的影响,集成电路失效分析对提高可靠性具有重要作用,当前我国集成电路制造业处于起步阶段,国内封装监测研究较为滞后。随着集成度的提高,失效分析面临困难加大,失效分析必须配备先进的技术设备开展分析工作。研究对型号研制中出现某柱栅阵列封装集成电路失效案例分析,提出非密封金属存在类似于塑料塑封器件失效机理,通过实验验证假设的正确性。             

  • 标签: 非密封陶瓷封装 集成电路 失效分析
  • 简介:摘要:随着科技的不断发展,在这样的形势下多腔体密封集成电路得到了广泛影响,为了更好地排除多余物的影响,应当对每个腔体都进行颗粒碰撞噪声检测PIND,才能够更好地探究集成电路颗粒碰撞情况,从而全面地提高检测效果。

  • 标签: 多腔体 集成电路 颗粒碰撞 噪声检测
  • 简介:摘要:随着科技不断进步和信息社会快速发展,集成电路产业在数字化、自动化、智能化方面发挥着越来越重要的作用,芯片作为信息技术的基础和核心,对电子产品的性能和功能起着关键性作用。本文针对集成电路产业的发展重点与关键技术展开详细分析,为进一步促进集成电路产业创新发展提供技术支持。

  • 标签: 集成电路产业 发展重点 关键技术
  • 简介:摘要:随着集成电路(IC)技术的不断发展,先进封装技术在IC封测领域的应用变得日益重要。本文探讨了先进封装技术在IC封测中的关键应用,突出了其对封测效率和可靠性的提升。首先,我们介绍了先进封装技术的基本原理和特点。接着,我们讨论了其在封测过程中的应用,包括封装结构的优化、测试接触点的改进和温度管理等方面。进一步,我们分析了这些应用对IC封测的重要性,以及它们如何提高了封测的精度和效率。最后,我们强调了在未来的IC封测中,先进封装技术将继续发挥关键作用,需要持续的研究和创新。

  • 标签: 先进封装技术 集成电路封测 封测效率 可靠性 封装结构优化
  • 简介: 摘要:集成电路制造厂的供配电系统可靠性对于生产的高效稳定进行至关重要。本文从技术角度深入分析了集成电路制造厂供配电系统的特点、可靠性的研究方法以及提高可靠性的措施。研究结果表明,通过采用冗余设计、定期维护、实施监控和报警系统等措施,可以有效提高供配电系统的可靠性,降低生产风险,为集成电路制造产业的可持续发展提供有力保障。

  • 标签: 集成电路制造 供配电系统 可靠性
  • 简介:摘要:随着集成电路(IC)技术的快速发展,封装成为了影响其性能与可靠性的关键因素之一。本文综合研究了集成电路的封装技术及其测试技术,旨在探讨封装对IC性能的影响及封装测试的关键技术。通过对现有封装技术的分类分析,重点讨论了几种主流封装方式的特点与应用场景。同时,详细探究了封装测试的技术路线,包括测试策略、测试方法及其在确保IC质量中的作用。通过案例分析,本文提出了一套针对不同封装类型的测试优化策略,以期提高测试效率和降低成本。本研究不仅对提升IC封装技术的理解和应用有重要意义,也为封装测试技术的发展提供了理论支持和实践指导。

  • 标签: 集成电路封装,封装测试技术,性能影响,测试策略,成本优化