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71 个结果
  • 简介:一、前言:人类在电子制造技术上为了方便大批量生产而开发出来的波峰焊接技术,并不如一度想象中的被后来的GMT技术所取代。波峰焊接的使用或需求,不但处于仍有小量增长的状态,而且在技术上由于业界在产品设计以及质量上的更严格要求而出现了一定的改进。

  • 标签: 波峰焊接技术 无铅波峰焊 老师 电子制造技术 大批量生产 产品设计
  • 简介:在走向无化的道路上,为了能够满足倒装芯片和晶圆级封装、SMT以及波峰焊接的需要,要求对各种各样的材料和工艺方案进行研究。为了能够满足电路板上的倒装芯片和芯片规模封装技术,需要采用合适的工艺技术和材料。采用模板印刷和电镀晶圆凸点工艺,可以实现这一目标。

  • 标签: 无铅化 封装技术 倒装芯片 晶圆级封装
  • 简介:IBM已将铜柱栅阵列(CuCGA)互连用作为陶瓷柱栅阵列(CCGA)上锡焊料柱的无替代品(见图1)。像CCGA一样,CuCGA提供一种高可靠性封装解决方案,可以使用具有优良的电性能和热性能的陶瓷芯片载体。取消在微电子封装中的应用的行动增加了大尺寸、高I/O封装的制造复杂性。与新型封装互连结构的开发一致的可制造卡组装和返工工艺的开发对于技术的可接收性是至关重要的。设计的铜柱栅阵列(CuCGA)互连可满足可制造性、可靠性和电性能等多方面的要求。可制造性的结构优化重点是在制造处理过程中保证柱的牢固性和具有便捷的卡组装工艺。最终卡上的焊点对于互连的可靠性是至关重要的。互连的几何形状还影响到电性能【1】。评估这些有竞争性因素决定着最后的柱设计【2】。本文重点讨论了CuCGA卡组装和返工工艺的开发和可靠性评估。工艺开发的目的是将成功的SMT组装工艺用于CCGA,以便开发出标准的无SMT工艺。将CuCGA组装工艺成功地集成于锡银一铜(SnAgCu,或者SAC)卡组装工艺的开发中,这对于贴装、再流和返修领域都将是一个挑战。本文将讨论通过可靠性评估说明这些工艺的优化和成功结果的实例。

  • 标签: 铜柱栅阵列 无铅卡组装 返修 可靠性评估
  • 简介:近日,DEK公司公布了最新的无焊膏对丝网印刷的研究结果,揭示其对网板设计准则的意义和影响。该结果还指出使用封闭式印刷头和镍网板的重要性,能将质量和良率提升至最高水平。

  • 标签: 设计准则 无铅焊膏 网板 丝网印刷 DEK公司 封闭式
  • 简介:将金属用作低温焊料已有多年的历史,其优点在于锡合金可在较低温度下熔化,而且的储量丰富、价格便宜。但随着人们环保意识日益增强,作为污染土壤和地表水的潜在因素,业界对的使用限制越来越多。尽管电子行业所用的占不到世界耗量的1%,但由于该行业所废弃的焊接件占废弃元素比例迅速增加,

  • 标签: 电子行业 无铅化 表面贴装 铅锡合金 环保意识 潜在因素
  • 简介:根据欧盟的相关指令,2006年7月起,包括电子组装在内的相关有害材料将被禁止。电子元件制造商要将产品销往全球,就必须改革制造工艺,包括电镀、原料、塑封等。印制电路板的表面封装因而比过去要求严格。由于可行的解决方案需要增强曝光能量,印制板的绝缘介质、塑料元件和一些相关的要素都必须重新评估。

  • 标签: 制造设计 无铅化 IPC 主办 印制电路板 有害材料
  • 简介:摘要本文建立了测定淡水虾中镉、的新方法。确定了淡水虾的微波消解处理方法条件和ICP-MS测定镉、的实验条件,方法准确、快速。

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  • 简介:作为实现向无化制造转换计划的一部分,美国东芝电子元器件公司(ToshibaAmericaElectronicComponentsInc.)已经宣布其储存产品无的计划,范围涵盖设计、工程部门和世界范围的电子元器件经销商。

  • 标签: 无铅化 东芝 COMPONENTS 电子元器件 世界范围 工程部门
  • 简介:化电子组装中,由于原材料的变化带来了一系列工艺的变化,随之产生许多新的焊接缺陷。本文针对“黑盘”现象进行了产生机理分析,并给出了相应的解决措施。

  • 标签: 无铅 焊点 缺陷 黑盘
  • 简介:国际电子制造联盟(iNEMI)最近设立了一个任务小组,以满足那些在RoHS指令产品内领先,或者其产品在RoHS指令范围之外的OEM厂商的要求。该锡(SnPb)GBA可用性任务小组,将于2007年1月在美国SanJose举行其首次工作会议,OEM和BGA供货商将齐聚一堂。

  • 标签: 可用性 无铅 ROHS指令 制造联盟 供货商 产品
  • 简介:在SMT制造过程中相当多的企业会碰到立碑现象,特别是在无工艺技术应用后,由于无锡膏的浸润性变差,这种现象更为突出,工程师们在解决这个问题时方法各异,众多SMT技术论坛有非常多的技术人员在寻找解决方法,为有效解决这种现象,现从力学的观点来具体阐述。

  • 标签: 力矩平衡 无铅器件 立碑
  • 简介:用实验和有限元的分析方法研究0.05mm~0.125mm铝线的引脚跟断裂问题,结果显示由于引线键合工艺、注塑工艺以及回流焊中封装体各部分不同的热膨胀系数引起的热应力和塑性变形是产生引脚跟断裂的主要因素。模拟不同的回流焊温度曲线(220℃、240℃、260℃)对铝线的影响,发现在铝线引脚跟处应力和应变最大,而且随着温度的上升,铝线引脚跟处的塑性变形会提高20%,这对铝线的疲劳损伤是很严重的。

  • 标签: 功率电子 铝线 无铅化 回流焊
  • 简介:综合分析了Sn-Cu-Ni系无钎料的国内外研究现状,概述了Sn-Cu-Ni系无钎料的润湿性、微观组织、界面反应、力学性能、焊点可靠性、物理性能等性能特点。从钎焊工艺、添加微量元素等方面阐述了Sn-Cu-Ni系钎料各项性能的影响因素,并对Sn-Cu-Ni系钎料的应用前景和研究方向进行了展望。

  • 标签: 无铅钎料 润湿性 微观组织 界面反应
  • 简介:针对日趋激烈的市场竞争,如何才能取得市场竞争的有力地位,各大厂商均在想方设法,晶英作为全国领先的电子工业表面贴装辅材设计和制造厂商之一,当然也不例外。

  • 标签: 市场竞争 无铅工艺 制造厂商 电子工业 中国 才能
  • 简介:采用Sn3.5Ag(221℃)Indium8.9T3-83.5%的焊膏,首先做了焊料的可焊性试验,随后设计了围框的密封焊试验,工艺样件由Cu80W镀金底板和柯伐镀金围框组成,在270℃恒定温度下,焊接时间2min。最后对焊接后的样件做了X-ray空洞率及焊接层面微观检测分析并测量了IMC厚度。研究结果表明:不仅Sn3.5Ag焊料的可焊性好,而且在镀金层上的致密性也好,在X光透射下柯伐镀金围框的空洞率低于5%,只是随时可能产生的小气孔会严重影响焊接的密封性。

  • 标签: Sn3.5Ag 密封焊 可焊性 X-RAY 空洞率
  • 简介:为进一步扩展全球公认的低银波峰焊接合金ALPHASACX0307的能力,确信电子宣布在全球推出新产品一ALPHASACX0807。该产品能于要求极好润湿能力的复杂双面焊接组件上达致与SAC305般的性能,即使是高压热循环,它仍具有良好的机械可靠性。

  • 标签: ALPHA 无铅焊膏 润湿能力 机械可靠性 焊接合金 双面焊接
  • 简介:UltrasonicSystemsInc.日前已开发出一种新的解决方案,以应用于免清洗、低助焊剂沉积的无波峰焊。此方案采用不用喷嘴的超声喷雾器技术,并结合来回移动,使得过孔的助焊剂量稳定且可重复性好。

  • 标签: 喷涂技术 助焊剂 波峰焊 超声 无铅 Systems