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  • 简介:X射线计量标准的建立和软X射线探测标定是目前国内急需解决的课题,本文简单介绍了两套北京同步辐射软X射线装置,它们主要用于软X射线光学元件测量和软X射线探测元、器件的标定。另外给出了近年来在软X射线测量装置上开展的计量标准和探测标定方面的研究结果。

  • 标签: 北京同步辐射软X射线装置 软X射线探测器 标定 软X射线 计量
  • 简介:成像板是一种新型的集成式面探测系统,近年来被广泛用于X光,特别是高强的同步辐射X光实验。为改善BSRF的探测条件和水平,最近BSRF购进了一套日本FujiFilm公司生产的BAS-2500成象板探测系统,提出供给广大用户使用。本文介绍了IP的工作原理、特性及应用,并对BSRF的IP探测系统作一简要介绍。

  • 标签: 成象板 面探测器 X射线 工作原理 应用
  • 简介:新型硅P-N结光电超二极管对光于能量响应范围已达到了X射线范围。它具有线性范围大,能量响应范围宽,量子效率高等优点,因而适用X射线探测。本文介绍了以光电二板管构成同步辐射XAFS探测替代传统的电离室探测组合的研究工作,给出了的探测结构设计,工作原理,实验结果及讨论。

  • 标签: XAFS实验 探测器 同步辐射 硅P-N结光电超二极管 结构设计 工作原理
  • 简介:论文介绍在北京同步辐射装置(BSRF)的实验条件下,用同步辐射X射线荧光微探针对单个流体包裹体作无损成分分析实验探索,包括样品的制备、流体包裹体鉴别和选择及在工作平台上对它们作显微对光、进行探测等。在20μm×10μm和10μm×10μm束斑下对几种类型流体包裹体作了测试分析,结果表明,矿物包裹体与主矿物中所含的微量元素的种类比较一致,只是在含量上有明显区别,它可以指示某种金属矿床和某种伴生矿的存在;而储集层中不同油井和层位的有机包裹体中所含微量元素的特征,可用于研究油气的成因和演化。

  • 标签: 同步辐射 X-射线荧光微探针 流体包裹体 无损分析 石油 天然气
  • 简介:本文简述流体包裹体研究的意义。介绍在BSRF的实验条件下,用同步辐射X射线荧光微探针对单个流体包裹体作无损成分分析实验探索,包括样品的制备、流体包裹体鉴别和选择及在工作平台上对它们作显微对光,进行探测等。在20×10μm^2和10×10μm^2束斑下对几种类型流体包裹体作了测试分析,并对结果作了讨论。

  • 标签: 同步辐射 X射线荧光微探针 流体包裹体 无损分析 矿物 成矿流体
  • 简介:秦山第二核电厂堆芯功率分布测量试验使用堆芯仪表系统(RIC系统)的4个移动微型裂变电离室入堆进行测量。由于制造公差以及探测辐照历史不同等原因,4个微型裂变电离室的探测效率各不相同。为计算探测之间探测效率的校刻因子,一般使用参考通道校刻法和交叉通道互校法。本文给出了几种校刻因子计算方法,并将所计算的校刻因子结果与法国CARIN程序校刻因子的计算结果进行了比对。

  • 标签: 功率分布试验 探测器 校刻因子 算法
  • 简介:密集散射体体系的小角散射往往存在干涉效应的影响[1]。所谓密集体系并不一定意味着有相当大的样品浓度,往往散射体的实在体积与样品体积的比值大于5%对散射曲线就有较大的影响。密集散射体之间的相互干涉效应理论上较难分析,因为这时的散射强度不仅取决于散射体按大小的分布,而且还取决于它们在空间的位置分布。在较大角域大散射体的散射强度接近于零,实质上不参与干涉:在很小角域各种散射体的散射强度均比较高而相互干涉。这时由实验曲线计算出的散射体的几何尺寸值将小于真实值。

  • 标签: 小角X射线散射 干涉效应 密集体系 散射强度 散射体
  • 简介:X射线干涉测量是通过软X射线激光经过马赫-詹德干涉仪完成的,是测量驱动激光临界面附近等离子体状态的重要方法。本文基于软X射线多层膜的性能特点,指出软X射线干涉测量的干涉仪各光学元件的入射角越接近正入射越好,分束镜的设计应以其反射率和透过率的乘积为衡量标准。用离子束溅射法制作了类镍银13.9nm软X射线激光干涉测量所需的分束镜,实测表明其面形精度达到纳米量级,反射率和透过率乘积大于1.6%。

  • 标签: 软X射线干涉测量 分束镜 激光 多层膜 等离子体 入射角
  • 简介:本文介绍北京同步辐射装置(BSRF)小角X射线散射实验站实验数据的初步处理方法,即由成像板探测检测到的散射信号转换成角度及其对应的强度数据的方法,并对数据转换过程中可能遇到的问题进行了详细的讨论.

  • 标签: 小角X射线散射 数据处理 同步辐射装置 BSRF 实验站 散射信号
  • 简介:用小角X射线散射(SAXS),Raman谱,红外透射谱等研究高氢稀硅烷热丝法(HWCVD)制备氢化微晶硅膜微结构,结果表明微晶硅的大小及在薄膜中的晶态比随氢稀释度的提高而增加。SAXS表明薄膜致密度随氢衡释度的增加而增加。结合红外谱和SAXS的结果讨论了不同相结合下硅网络中H的键合状态。认为在非晶硅膜中H以SiH键为主,在微晶硅膜中H以SiH2为主且主要存在于晶粒的界面。

  • 标签: 微晶硅薄膜 小角X射线散射 半导体 红叶光谱 结构
  • 简介:采用溶胶-凝胶方法在碱性条件下制备SiO2和ZrO2溶胶,应用同步辐射小角X射线散射(SAXS)法研究了溶胶的结构,结果表明,溶胶粒子是多分散的,其生长、聚集受RLCA和Eden模型的共同控制,是一种非线性的动力学过程,所形成的聚集体呈随机、分岔、稠密不同的结构,具有质量分形的特征。同时还发现所研究溶胶的散射曲线均不遵守Porod定理,形成负偏离或正偏离。这说明在溶胶粒子与分散介质间有过渡相存在。对上述偏离进行了定性和定量的分析,提出了正偏离时的定量解析方法,从而得到了胶体系统中有关过渡层(界面层)结构的重要信息。

  • 标签: 小角X射线散射 溶胶 结构 二氧化硅 二氧化锆
  • 简介:GaAs半导体材料可以提高器件运行速度,日益引起人们的注意,但是也给器件制造者带来了许多问题。在本文个,一个全新的可应用于HEMT器件的深亚微米X射线T型栅工艺被提出来,该工艺采用三层胶方法,曝光实验是在北京同步辐射3BlA束线上进行的,并且取得了好的结果。

  • 标签: GAAS 半导体材料 亚微米X射线T型栅工艺 制造 半导体器件 X射线光刻
  • 简介:详细介绍了软X射线绝对光强测量系统的设计和结构及其标定的情况和结果。测量系统包括电离室、监测(或待标定)探测及其传动系统两部分,可作为50-2000eV软X射线绝对强度测量的一级标准探测,并给出了系统的偏差。

  • 标签: 测量系统 软X射线 绝对光强 测量 电离室 标定
  • 简介:X光扫描相机是对软X光时间特性进行研究的主要诊断工具。我们利用同步辐射作为光源,对它的静态性能:能量响应、增益等性能进行了相对标定,给出了软X光条纹相机的能量响应曲线和增益特性曲线,并与利用Henke的经验公式^[1]计算给出的响应曲线比较,其结果与理论较符合。

  • 标签: 软X射线条纹相机 静态性能 标定 软X光 时间特性 诊断
  • 简介:论文介绍了北京同步辐射X射线荧光微束分析装置的最新进展,以及近年来在生物医学和石油地质领域的应用研究工作,重点报导了前不久在国内首次使用该方法,对单个流体包裹体探测的实验结果。

  • 标签: 同步辐射 X-射线荧光 微束分析 微量元素 分析装置 应用