简介:高剂量X射线粉末衍射测试说明升高温度有利于γ-Al2O3/Si外延生长,单晶衍射法证明应用低压CVD和高真空外延技术在我们的实验室生长出γ-Al2O3/Siuj单晶薄膜。它们的结晶关系是(100)γ-Al2O3//Si,[010]γ-Al2O3//[010]Si。
简介:
硅上异质外延氧化铝的X射线测试分析
3WlA光束线和生物大分子晶体学实验站
同步辐射X射线荧光分析在矿物微量元素研究中的应用及形貌学研究在矿物中的应用初探