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《连云港职业技术学院学报》
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2010年4期
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数字IC测试仪测试向量与编码方法研究
数字IC测试仪测试向量与编码方法研究
(整期优先)网络出版时间:2010-04-14
作者:
孙承庭;朱春江
文化科学
>职业技术教育学
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资料简介
针对数字IC电路逻辑功能、真值表不同,芯片参数数据库向量编码复杂的问题,设计并解决了数字实验中常用20脚以内的数字IC测试仪最为关键的测试向量及其编码问题。
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针对数字IC电路逻辑功能、真值表不同,芯片参数数据库向量编码复杂的问题,设计并解决了数字实验中常用20脚以内的数字IC测试仪最为关键的测试向量及其编码问题。
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