简介:NOR型FLASH存储器因其能够长久地保持数据的非易失性(Non-Volatile)特点,被广泛用作各类便携型数字设备的存储介质,但由于此类器件的编程及擦写均需写入特定指令,以启动内置编程/擦除算法,从而使得采用自动测试系统对其进行测试也具有较高难度。因此,研究NOR型FLASH存储器的测试技术,并开发此类器件的测试平台具有十分重要的意义。首先以AMD公司的AM29LV160DT为例,介绍了NOR型FLASH存储器的基本工作原理,接着详细阐述了一种采用J750EX系统的DSIO模块动态生成测试矢量的方法,从而能够更为简便、高效地对NOR型FLASH存储器的功能进行评价。
简介:摘要:随着互联网技术的迅猛发展,各类信息每天以井喷式状态产生、传输和应用。为了适应信息时代信息管理的需求,分布式数据库应运而生。在传统的集中式数据库时代,信息存储和信息用户较少,集中式存储库只能够满足基本的数据管理需求。而随着信息用户增多,对于信息存储、传输管理的要求不断提高,在信息管理方面更需要大容量和高效率的数据库技术来确保信息高品质、高效率的应用。分布式数据库与集中式数据库相反,它将多个数据存储单元组合为同一个数据库,然后分存到不同的数据存储节点上,实现海量数据的超大容量存储和访问。研究分布式存储数据技术在大数据中的应用对于解决现阶段数据库存储问题有着重要意义。