简介:摘要:近年来,社会进步迅速,我国的现代化建设的发展也有了改善。硅压阻式压力传感器因其灵敏度高、动态响应快、稳定性好等优点,在工业、军事、航空航天、国防、气象、农业等领域应用广泛。因此,对压力传感器的精度及长期稳定性提出更高的要求。由于半导体的材料特性,外界环境因素会引起压敏电阻特性和压阻特性变化,从而引起较大的零点、满量程漂移和非线性改变的情况,导致传感器的工作精度误差增大,因此需要对其零点、满量程以及多点进行校准。目前,常用的校准方法有电路硬件校准和软件校准,电路硬件前期校准复杂且调试困难,不适合工程化。软件后期校准一般有曲面拟合、多次拟合方法和数学模型等,对改善精度有较好的效果。