简介:
简介:应用激光激发荧光谱实验对经热处理后及高压条件下的氮碳薄膜荧光光谱进行了测量分析,实验显示,热处理效应和高压效应均导致薄膜荧光效率降低,前者表现为不可恢复,后者为可恢复即卸压后荧光效率的恢复,表明导致荧光光谱效率降低的微观机制不同,为氮碳薄膜荧光模型提供了新的实验证据。
简介:本文通过对工艺自控系统故障测试和维修技术的学习,和在实际工作中通过对系统检修经验的积累,归纳总结了对自控系统及设备故障诊断和与维修的思路和方法,为保证系统运行的稳定性和可靠性提供了维修技术的策略.
提高重铀酸盐过滤效率
高压及热处理对氮碳薄膜激光诱导荧光效率的影响
GO法与故障树分析方法及比较(上)
自控系统故障诊断与隔离的可靠性方法