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  • 简介:采用熔融片制样用X射线荧光光谱法对陶瓷、色料和釉物料中Na,Mg,A1,Si,P,S,K,Ca,Ti,Mn,Fe,Ba,Zr,Zn,Hf15种元素进行了测定,用理论α系数校正基体效应.方法简便、快速、分析结果的准确度完全能满足上述物料分析的要求.还用纯化学试剂和标准样品按一定比例混合制备标准样品,弥补了色料和釉缺少标准或没有标样的困难.又对Zr和Hf元素分析线进行了选择,用ZrLα和HfLβ1作为分析线,而不采用ZrKα,不仅使制备的熔片达到ZrLα线的饱和厚度,使分析结果的准确度和重现性好,而且还消除了ZrKα的谱线对HfLβ1分析线的干扰.

  • 标签: 波长色散X射线荧光光谱 陶瓷 色料 熔融片
  • 简介:研究了某低品位复杂铝土矿中高岭石与一水硬铝石矿物相分离的传统选择性溶剂(HF溶液)的不适应性问题.物质组成分析指出,由于此类物料中伴生有含钠(钠长石)和含镁(铁质角闪石)脉石类矿物,所以在用HF溶液浸取高岭石的反应过程中,与Al3+同步进入浸出液中的Na+和Mg2+,又与F-反应,形成NaMgAlF6·xH2O次生沉淀,且其与一水硬铝石矿物相一并留于余渣中,而直接干扰测定.因此,对H2SO4溶液作为选择性溶剂的可替代性问题进行了验证.结果表明:试样于500℃预焙烧后,用H2SO4(12mol/L)溶液沸水浴浸取分离高岭石,于余渣中测定一水硬铝石,可获得比较满意的结果.同时,对钠长石其它含铝矿物干扰测定的校正方法问题,也进行了探讨.

  • 标签: 高岭石 一水硬铝石 选择性溶剂 化学物相分析 铝土矿