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  • 简介:利用曼光谱研究了He^2+注入六方SiC晶体样品时的损伤缺陷随注量的变化关系,并采用直接碰撞/缺陷模拟模型与多级损伤累积模型,模拟了室温及723,873,1023K下晶体样品的无序度随注量的变化关系。测试结果表明:随着注量的增加,晶体样品无序度增大,样品的曼特征峰强度减小。

  • 标签: 碳化硅 离子注入 拉曼光谱 损伤累积