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  • 简介:Hf的加速器质谱分析要求必须提供纯度极高的HfF4样品,以便获得足够多的HfF5^-离子流来进行测量。氧同位素等杂质会导致产生HfF3O^-,HfFO2^-等无测量价值的离子流,造成HfF5^-束流强度降低,使测量能力下降。“干法”制备技术有助于获得纯度高、无氧和水等杂质的HfF4样品,从而改善加速器质谱的测量效果。

  • 标签: 干法制备 样品 加速器质谱 测量能力 质谱分析 氧同位素