简介：摘要：本文以Geant4软件为基础模拟研究了基于宏孔硅的像素化X射线闪烁屏的通道深度、通道孔径、通道内壁结构等因素与其转换效率的关系。模拟结果表明：随着通道深度、孔径增加，转换效率越来越高。分析了不同材料为内壁通道反射层对转换效率的影响，内壁分别以材料1、材料2作为反射层，得出由于材料1的反射率高于材料2，所以基于宏孔硅的CsI(Tl)像素化X射线闪烁屏转换效率与通道内壁材料的反射率成正比。
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