简介：软件测试是保证软件质量的重要手段。航空软件因特殊环境使用要求需具有高安全性和高可靠性。由于多数航空软件为嵌入式软件,故难以测试。目前,国内外航空软件测试管理思路和技术方法各异。从规范标准、测试定义、团队分工、测试类型、测试环境、测试工作产品和资源配置等方面,对国内外航空软件测试进行了论述和比较,以期达到更好的软件测试。

简介：随着航空航天事业的发展,器件的抗辐照性能变得越来越重要,因此对抗辐照指标的应用测试已显得至关重要。基于FPGA和NI工控机,设计四通道数据采集测试系统,用于监测FIFOSRAM单粒子实验中发生的单粒子翻转（SEU）和单粒子闩锁（SEL）效应。采样率可达50MHz,对器件的读写频率达10MByte/s。该系统可实现对FIFOSRAM单粒子试验过程的远程测控。在监测单粒子翻转的过程中,既监测存储器的SEU效应,又监测了读写指针的SEU效应,并经过实际的单粒子效应测试验证了本系统的可靠性。

简介：随着经济发展和科学技术的进步,集成电路（IntegratedCircuit）产业保持着持续、快速的发展。作为集成电路产业链中的一个重要环节,集成电路测试在评价集成电路电性能、质量和可靠性等方面提供了有力的技术支撑,其中集成电路高压测试是进行电源管理、高压驱动等一系列芯片耐压单元性能检测的重要环节。主要研究集成电路成品高压测试过程中存在的一些问题以及相应的解决方案。

简介：分析了目前电子装备测试环境建设对体系结构框架的需求，提出了基于能力的电子装备测试环境体系结构框架，并对体系结构建模过程进行了流程设计，为后续体系结构视图产品设计提供了依据以及电子装备测试环境建设体系结构设计遵循的方法，从而解决了电子装备测试环境结构设计和多视图描述框架等技术问题。

简介：半导体存储器一般由存储体、地址译码驱动器、读／写放大器和控制电路组成，是一种能存储大量信息的器件，它是由许多存储单元组成的。半导体存储器的测试有功能测试、直流参数测试、交流参数测试，而功能测试和交流参数测试对存储器来说是至关重要的。SRAM（静态随机存储器）的功能测试是通过算法图形发生器产生不同的测试图形，对被测器件各个不同存储单位进行读写操作，以检查其功能。主要讲述了SRAM交流参数测试原理及其测试关键技术，介绍了SRAM交流参数测试的故障模型。通过研究SRAM交流参数测试图形向量，给出了SRAM交流参数测试图形向量的优化方法。

简介：LDO类IC（低压差线性稳压器）作为新一代集成电路稳压器,以其低噪声、高电源抑制比、低成本、高效率等特性,目前正广泛应用于各种供电系统中。输出电压（基准值）作为低压差线性稳压器最重要的参数是测试过程中最为重要也是最为关注的一项。在CP测试时,一旦输出电压因各种原因出现了偏差,将造成难以挽回的后果。探讨了提高LDO类IC基准值测试精度的一些方法。

简介：随着高速ADC器件的不断出现,传统的低速ADC器件测试评价方法已经越来越不适用。为从工程上实现高速ADC器件的测试评价,提供了一种高速ADC器件关键参数评价INL、DNL的新方法,详细分析了新算法的原理和正确性。目前这些算法已经大量应用到实际高速ADC器件的测试评价中去,解决了高速ADC器件难以评价的问题。

简介：针对利用双采样点解决单脉冲体制下两个慢起伏舰船目标的角估计算法噪声适应能力差的缺点,提出一种双采样点角估计筛选均值法。首先介绍了双采样点角估计算法对舰船方位角进行估计的基本原理;然后在此基础上利用单个舰船回波信号脉冲串得到一组估计值,通过角度有界约束和孤立点剔除法对此组估计值进行筛选,对筛选后的估计值取均值得到单个脉冲串的方位角估计值,再对多个脉冲串的方位角估计值取均值作为两目标的方位角估计值。最后通过仿真结果表明改进算法性能稳定,估计精度优于简单的双采样点算法,具有较强的噪声适应能力。

简介：为了确定空战对抗中我机受到的威胁，通过空战威胁估计的战斗值、角度、距离和速度等主要因素量化分析，结合区间数层次分析法给出一种用于计算敌机对我空中歼击机威胁的定量方法。最后，通过实例计算结果表明，该方法可为指挥员进行对抗态势分析、对抗战法选取和长僚机目标分配提供依据。

简介：直升机在飞行过程中极易发生旋翼结冰现象,旋翼结冰对直升机的危害极大,为有效除冰和保障飞行安全必须进行旋翼结冰探测。研究通过分析旋翼的结冰特性、结冰机理和结冰范围以及激光三角法探测原理,探讨了一种基于激光三角法的非接触式旋翼结冰探测技术,该技术通过测算旋翼前后缘高差的方法,确定旋翼结冰厚度和速度。详细阐述了实现原理,给出了具体实施方案和实际应用中的不足与弥补方法,同步探测控制、偏振与检偏、浮动阀值等处理手段的应用有效地保证了测量精度和可靠性。