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为测试受限制的板制定DFT程序

作者： srigOtesjo BarryOdbert
学科：电子电信 > 电路与系统
创建时间：2004-05-15
出处：《电子电路与贴装》 2004年第5期

简介：本文介绍．对于许多板来说，由于不适当的可测试性设计(DFT．designfortestability)而失去对关键节点的探测可能完全地毁坏缺陷覆盖率。
标签： DFT 可测试性设计覆盖率探测节点限制

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