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一种新的光板测试系统

作者： Yuichi Haruta;Keikichi Yagii;Kimura;陈广
学科：电子电信 > 微电子学与固体电子学
创建时间：1994-11-21
出处：《印制电路信息》 1994年第11期

简介：光板测试一年比一年复杂。本文介绍一种适合测试精细线条的SMT或MCM光板的检测系统。包括支持对位系统的计算机和具有一种新型导电橡胶的非点阵网格转接板。
标签：光板测试转接板

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