简介：摘要：近年来，随着超大规模集成电路（VLSI）技术的不断发展和应用范围的扩大，对于高效可靠的测试方案的需求也日益迫切。VLSI芯片中包含着庞大的电路数量和复杂的设计结构，传统的全芯片测试方法在耗时、成本和资源利用率等方面存在一定的局限性。因此，基于电路分块的测试技术成为了一个备受关注的研究方向。
基于电路分块的超大规模集成电路测试技术研究
