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X射线三维CT技术在元器件失效分析中运用研究

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摘要摘要：现阶段，在电子信息技术时代，为实现新技术革命目标，电器、仪器仪表等行业对于社会发展具有重要意义。而电子元器件作为其广泛应用的产品，受外部环境因素影响较大，同时，由于受力形式的不同，会产生多种失效原因，造成企业经济损失。对此，本文针对X射线三维CT技术在元器件失效分析中运用展开分析，结合时效影响因素，加强对其内部结构的探索，在有效增加使用寿命的同时，提高对电子元器件整体保护水平。

DOI 34gmkql6z4/8153255

作者杨明辉

机构地区贵州振华华联电子有限公司贵州省凯里市 556000

出处《科技新时代》 2024年2期

关键词元器件失效 X射线三维CT技术多视角图像成像虚拟开帽操作

分类 [建筑科学][建筑技术科学]

出版日期 2024年04月11日（中国期刊网平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

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