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集成电路和电子元器件可靠性测试与寿命评估研究

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摘要摘要：集成电路和电子元器件的可靠性测试和寿命评估是保障电子设备正常运行和延长寿命的关键研究方向。在电子产品的设计、制造和使用过程中，不同环境条件以及长期使用会对集成电路和电子元器件产生各种影响，从而导致产品的失效和寿命缩短。通过可靠性测试和寿命评估研究，可以及早发现潜在问题，提前修复和提升产品质量，为用户提供更加稳定可靠的电子产品。

DOI ojz2zwknj5/7724746

作者赵巍

机构地区广电计量检测集团股份有限公司广东广州 510000

出处《中国科技信息》 2023年13期

关键词集成电路电子元器件可靠性测试寿命评估

分类 [建筑科学][建筑技术科学]

出版日期 2023年10月25日（中国期刊网平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）