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基于外存性能模型的多通道并行I／O

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摘要 I／O部分一直是制约计算机系统整体性能提升的瓶颈。本文提出外存性能模型，用于定量分析外存的I／O性能并帮助克服I／O瓶颈，并在此基础上，提出用多通道I／O克服PCI总线瓶颈。采用多钱程控制和异步I／O技术，使所有通道的磁盘并行工作。对比实．验表明，最大顺序读性能提升了46％，顺序写提升48％，随机读提升4％，随机写提升57％。

DOI pj01635ydy/477527

作者刘鹏;李三立

机构地区不详

出处《通讯和计算机：中英文版》 2005年10期

关键词 I/O PCI 外存性能模型多通道

分类 [自动化与计算机技术][计算机应用技术]

出版日期 2005年10月20日（中国期刊网平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）