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电子设备热设计方法浅析

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摘要摘要元器件的工作温度是影响电子产品使用寿命和可靠性的重要因素。本文主要针对电子设备的热设计方法进行分析，阐述了热设计在产品研发过程中的必要性，提出了一些散热设计的思路和结构方案，希望可以为今后的设计工作提供参考。

DOI pd55pvzld7/4185223

作者江小富

机构地区南京长江电子信息产业集团有限公司江苏南京210038

出处《防护工程》 2018年34期

关键词电子设备可靠性散热设计结构方案

分类 [文化科学][]

出版日期 2018年12月22日（中国期刊网平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

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