首页 > 《电力设备》 > 2018年21期 > TFT-LCD面板亮点缺陷的研究

TFT-LCD面板亮点缺陷的研究

在线阅读下载PDF 导出详情

摘要摘要随着现代电子信息技术的发展，手机薄膜晶体管液晶显示器屏向大尺寸、轻薄化、高分辨率方向发展。TFT-LCD是由很多像素组成，结构复杂、制造工序繁多，如果其中有一些像素不能正常工作，就会造成局部的显示不良，如出现亮点、暗点、亮线、暗线等缺陷，这些缺陷在生产过程中不可避免，但易于观察和检测。点缺陷产生的主要原因是单体TFT薄膜晶体管的失效，线缺陷则由多个驱动电路与屏幕连接不良引起的。本文主要通过研究TFT-LCD的显示原理，亮点缺陷在LTPS低温多晶硅Array制程中的分析和改善修复，来提升生产的良率，对于提高TFT-LCD手机屏的质量具有重要意义。

DOI ldeoexzn43/3503841

作者淦君君

机构地区（厦门天马微电子有限公司福建厦门361101）

出处《电力设备》 2018年21期

关键词 TFT-LCD 液晶面板亮点缺陷镭射修复

分类 [电气工程][电力系统及自动化]

出版日期 2018年12月22日（中国期刊网平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）