磁性[Co(t)/Cu]n周期多层膜的结构与巨磁电阻效应

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摘要 用磁控溅射方法制备了一系列[C(t)/Cu(2.04nm))In(n=20,30)周期多层膜,利用四端点法、振动样品磁强计研究了多层膜的电磁性质,样品的磁电阻随钴亚层厚度的增大有一最佳值t=1.2nm。利用同步辐射掠入射X射线散射(衍射)技术在不同的X射线能量下研究了耦合多层腹的界面结构,探索了耦合多层膜中磁电阻增强的可能原因。
机构地区 不详
出版日期 2001年01月11日(中国期刊网平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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