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采用反相方法测试台架测定3．3kV IGCT的特性

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摘要采用反相方法测试台架在实际工作条件下,对ABB公司提供的实验性3.3kVIGCT进行了特性测定。这种器件在硬开关运行下的导通损耗非常小,开关损耗也降低了。这就表明一种新型大功率/中电压半导体器件已经问世,它们可以用于较高开关频率(超过1kHz)和大电流工况,以改善大功率变换器的性能。

DOI 2lde25ed3r/10789

作者 S.阿尔瓦雷斯;P.拉杜克斯;J.布拉奎尔;E.卡洛尔;P.斯特瑞特;张斌

机构地区不详

出处《电力电子》 2004年6期

关键词特性测试集成门极换流晶闸管(IGCT) 反相方法测试台架

分类 [电子电信][电路与系统]

出版日期 2004年06月16日（中国期刊网平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

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来源期刊

电力电子

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