简介:本文利用X射线小角衍射和漫散射技术研究了两组具有不同GMR的NiFe/Cu多层膜样品的界面结构。利用在CuK吸收边附近的能量扫描得出了关于NiFe和Cu层的结晶性情况。结果表明两组样品在界面结构和结构性上有明显的区别。另外,我们还发现NiFe和Cu层的原子密度差别比块材料的差别大27%。
简介:
X射线导常散射研究NiFe/Cu多层膜结构
BSRF SXRF分析装置对地质样品的检测能力—兼述矿物流体包裹体SXRF分析的几个问题